Гранітні компоненти широко використовуються в галузі прецизійного виробництва, площинність як ключовий показник безпосередньо впливає на його продуктивність та якість продукції. Нижче наведено детальний вступ до методу, обладнання та процесу визначення площинності гранітних компонентів.
I. Методи виявлення
1. Метод інтерференції плоских кристалів: підходить для високоточної перевірки площинності гранітних компонентів, таких як основа оптичного приладу, надточна вимірювальна платформа тощо. Плоский кристал (оптичний скляний елемент з дуже високою площинністю) щільно прикріплюється до гранітного компонента, що перевіряється на площині, використовуючи принцип інтерференції світлових хвиль, коли світло проходить через плоский кристал та поверхню гранітного компонента, утворюючи інтерференційні смуги. Якщо площина елемента ідеально рівна, інтерференційні смуги є паралельними прямими лініями з однаковою відстанню; якщо площина увігнута та опукла, смуга згинається та деформується. Залежно від ступеня вигину та відстані між смугами, похибка площинності розраховується за формулою. Точність може сягати нанометрів, і можна точно виявити невелике відхилення площини.
2. Метод вимірювання електронним рівнем: часто використовується у великих гранітних компонентах, таких як станини верстатів, великі портальні обробні платформи тощо. Електронний рівень розміщується на поверхні гранітного компонента для вибору точки вимірювання та переміщення по певному вимірювальному шляху. Електронний рівень вимірює зміну кута між собою та напрямком сили тяжіння в режимі реального часу за допомогою внутрішнього датчика та перетворює його на дані відхилення рівності. Під час вимірювання необхідно побудувати вимірювальну сітку, вибрати точки вимірювання на певній відстані в напрямках X та Y та записати дані кожної точки. За допомогою аналізу програмного забезпечення для обробки даних можна визначити площинність поверхні гранітних компонентів, а точність вимірювання може досягати мікронного рівня, що може задовольнити потреби виявлення площинності великомасштабних компонентів у більшості промислових умов.
3. Метод виявлення за допомогою КВМ: комплексне виявлення площинності може бути виконане на гранітних компонентах складної форми, таких як гранітна підкладка для форм спеціальної форми. КВМ рухається в тривимірному просторі через зонд і торкається поверхні гранітного компонента для отримання координат точок вимірювання. Точки вимірювання рівномірно розподіляються на площині компонента, і будується вимірювальна решітка. Пристрій автоматично збирає дані координат кожної точки. Використання професійного вимірювального програмного забезпечення, відповідно до даних координат для розрахунку похибки площинності, може не тільки виявити площинність, але й отримати розмір компонента, форму та допуск положення, а також іншу багатовимірну інформацію, точність вимірювання залежить від точності обладнання, зазвичай від кількох мікронів до десятків мікронів, висока гнучкість, підходить для виявлення різних типів гранітних компонентів.
II. Підготовка випробувального обладнання
1. Високоточний плоский кристал: Виберіть відповідний прецизійний плоский кристал відповідно до вимог до точності виявлення гранітних компонентів, наприклад, для виявлення нанорозмірної площинності потрібно вибрати надточний плоский кристал з похибкою площинності в межах кількох нанометрів, а діаметр плоского кристала повинен бути трохи більшим за мінімальний розмір гранітного компонента, що підлягає перевірці, щоб забезпечити повне покриття області виявлення.
2. Електронний рівень: Виберіть електронний рівень, точність вимірювання якого відповідає потребам виявлення, наприклад, електронний рівень з точністю вимірювання 0,001 мм/м, який підходить для високоточного виявлення. Водночас підготуйте відповідну магнітну основу столу, щоб електронний рівень міцно закріпився на поверхні гранітного елемента, а також кабелі для збору даних та комп'ютерне програмне забезпечення для запису та обробки даних вимірювань у режимі реального часу.
3. Координатно-вимірювальний прилад: залежно від розміру гранітних компонентів та складності форми, слід вибрати відповідний розмір координатно-вимірювального приладу. Великі компоненти потребують калібрів з великим ходом, тоді як складні форми потребують обладнання з високоточними зондами та потужним вимірювальним програмним забезпеченням. Перед вимірюванням КВМ калібрується для забезпечення точності зонда та точності позиціонування координат.
III. Процес тестування
1. Процес інтерферометрії плоского кристала:
◦ Очистіть поверхню гранітних компонентів, що підлягають огляду, та плоску поверхню кристала, протріть безводним етанолом, щоб видалити пил, олію та інші забруднення, щоб забезпечити щільне прилягання без зазорів.
Повільно помістіть плоский кристал на поверхню гранітного елемента та злегка натисніть, щоб вони повністю зіткнулися, щоб уникнути бульбашок або нахилу.
◦ У темній кімнаті для вертикального освітлення плоского кристала використовується монохроматичне джерело світла (наприклад, натрієва лампа), спостереження інтерференційних смуг зверху та реєстрація форми, напрямку та ступеня кривизни цих смуг.
◦ На основі даних інтерференційних смуг обчисліть похибку площинності за відповідною формулою та порівняйте її з вимогами до допуску площинності компонента, щоб визначити, чи відповідає він вимогам.
2. Процес вимірювання електронного рівня:
◦ На поверхні гранітного компонента намальована вимірювальна сітка для визначення розташування точки вимірювання, а відстань між сусідніми точками вимірювання встановлюється відповідно до розміру та вимог до точності компонента, зазвичай 50-200 мм.
◦ Встановіть електронний рівень на магнітну основу столу та прикріпіть його до початкової точки вимірювальної сітки. Увімкніть електронний рівень та зафіксуйте початкове значення горизонтальності після того, як дані стабілізуються.
◦ Переміщуйте електронний рівень точково вздовж вимірювальної траєкторії та записуйте дані про рівність у кожній точці вимірювання, доки не будуть виміряні всі точки вимірювання.
◦ Імпортуйте виміряні дані в програмне забезпечення для обробки даних, використовуйте метод найменших квадратів та інші алгоритми для визначення площинності, генеруйте звіт про помилку площинності та оцінюйте, чи відповідає площинність компонента стандарту.
3. Процес виявлення ШМ:
◦ Помістіть гранітний компонент на робочий стіл КВМ та за допомогою пристосування міцно закріпіть його, щоб компонент не зміщувався під час вимірювання.
◦ Відповідно до форми та розміру компонента, шлях вимірювання планується у вимірювальному програмному забезпеченні для визначення розподілу точок вимірювання, забезпечуючи повне покриття площини, що перевіряється, та рівномірний розподіл точок вимірювання.
◦ Запустіть КВМ, перемістіть зонд відповідно до запланованого шляху, зв'яжіться з точками вимірювання поверхні гранітного компонента та автоматично зберіть дані координат кожної точки.
◦ Після завершення вимірювання програмне забезпечення для вимірювання аналізує та обробляє зібрані дані координат, обчислює похибку площинності, генерує звіт про випробування та визначає, чи відповідає площинність компонента стандарту.
If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com
Час публікації: 28 березня 2025 р.